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显微物体表面三维形貌观测与分析在工业、医学、艺术、计算机等领域具有越来越重要的应用价值,也发挥着越来越重要的作用。该文以能够快速、廉价、非接触地重构出显微物体三维形貌为目标,提出一种基于改进的Laplace算子值进行图像的聚焦评价、高度测量和三维重构的方法,该方法通过计算每个像素点的改进Laplace值,帮助用户快速实现显微物体的三维形貌重构,将显微物体的形貌观测和分析从二维扩展到三维。大量的实验结果和用户体验反馈信息进一步验证了该方法的有效性和实用性。