论文部分内容阅读
第五届国际自动化测试与仪器仪表学术会议（ISTAI）是由中国仪器仪表学会和北京信息科学技术大学主办，是自动化测试，控制和仪器仪表领域的国际学术研讨会和技术盛会，已分别于2006年、2008年、2010年和2012年成功举办4届，为自动化测试与仪器领域的发展现状与前景及尖端技术的交流搭建了一个有效平台，来自世界各地的百余位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂，交流信息、探讨问题、促进了相互间的了解和友谊。