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针对小批量显卡产品测试中存在资源利用率低、大量专用测试仪管理难的问题，笔者通过对SOPC技术的研究，在通用显卡测试仪上运用SOPC技术，提出了一种基于SOPC技术的通用化测试仪的设计方法，完成了基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计方案，并最终根据设计目的给出了相应实例，证实该方法具有一定可行性。通过对该方法的研究，对于提高通用显卡测试仪的性能具有一定意义。