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应用基于光滑的、紧支撑的Cohen-Daubechies—Feauveau（CDF）双正交尺度函数的时域多分辨分析（MRTD）方法分析天线的辐射，推导了MRTD迭代方程及各向异性理想匹配层（APML）吸收边界公式，并对天线的重要参数如：S参数，输入阻抗，辐射方向图等进行计算。计算结果显示：MRTD的结果与传统的FDTD的结果相比一致，说明MRTD在不牺牲精度情况下，节省大量计算资源。