论文部分内容阅读
针对MoSi：发热元件是一种非线性小电阻元件，且其电阻率—温度曲线的测量温度范围大（O℃-1700℃）的特点，采用恒流源法结合四引线法设计出一套测量温度从0℃至1650℃的MoSi2发热元件的电阻率一温度曲线测试系统，并根据误差理论，结合测试系统在室温31℃和高温1600℃时具体的测试条件和实际测试结果，对该测试系统的不确定度进行分析。分析结果表明该测试系统具有较高的测量精度。