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为适应工业发展和计量界对精密定位提出的越来越高的要求，提出了基于偏振激光干涉技术的纳米定位方法。在该干涉测长系统中，用偏振计取代传统单频激光干涉仪的光电传感器并配置偏振分光元件、起偏镜等，可将干涉仪出射光的干涉条纹相位细分为36000份，使用波长为633nm的激光源，可将理论测量分辨率提高到10pm。将完成的偏振干涉测长系统与商用SIOS干涉仪的实验测量结果做了比对。对完成的实验系统的各误差源做了实验研究，得到量化值。经不确定度评估计算，在标准实验室环境条件下，对于微米级行程的位移，其位置测量不确定度小于