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随着集成电路技术的不断进步,集成电路器件在工业科技领域的应用不断增长。为保证集成电路企业输出质量上乘、品质优良的产品,对集成电路器件测试的要求也不断提高。通过对集成电路测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和分析研究,对于应用到集成电路设计、制造等关键环节具有十分重要的技术意义和经济意义。