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利用在金刚石对顶砧上集成的微电路，高压原位测量了AgI的电导率，实验观察电导率随压力的变化规律，并在不同压力下，测量了岩盐相结构AgI的电导率随温度（293～443K）的变化关系，实验结果表明，In（σT）与10^3T^-1近似呈线性关系．计算了传导离子浓度和Frenkel缺陷扩散的激活能，并测量了KOH型结构AgI的电导率与温度和压力间的关系，得到压力高于20GPa时的能隙与压力关系．