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设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。
X射线成像光斑检测装置研制
【摘 要】
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设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际
【机 构】
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公安部第三研究所,中晟光电设备上海有限公司
【出 处】
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核电子学与探测技术
【发表日期】
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2014年5期
【基金项目】
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公安部应用创新项目（2010YYCXGASS106）
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