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分别采用双螺杆挤出机和密炼机制备绝缘母料,再将绝缘母料制备成高压直流电缆绝缘料,通过透射电镜(TEM)和Image J软件定量分析直流料中纳米粒子的分散性能,并测试直流料的电气性能.结果表明:通过TEM图像的定性分析难以判断纳米复合直流料中纳米粒子的分布和分散程度,采用Image J软件可以提取TEM图中纳米粒子的特征数据,从而能够定量分析纳米粒子的分散性能;与采用密炼机制备绝缘母料的直流料相比,采用双螺杆挤出机制备绝缘母料的直流料中纳米粒子分布更均匀,分散更好,其电气性能更优.