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错误诊断是在逻辑芯片中预测潜在错误点的过程。为了快速有效地诊断电路中的错误，提出一种将符号模拟技术应用到基于区域模型的错误诊断法上的新思想，具体方法是通过对要诊断的电路进行区域划分，然后利用符号模拟方法依据两种测量标准对各个区域候选者进行可疑度的等级排序，从而对电路中所含错误进行判断。可疑度越高的区域，其作为错误候选者的可能性越大。该方法利用符号模拟技术，不需要对向量空间进行穷尽的列举，因而在空间和时间上是有效的。