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采用p型同轴高纯锗探测器测量含^226Ra的荧光仪表盘与标准源^133Ba的衰变γ能谱,并分析特征γ射线的能量和强度.结果表明:^226Ra能谱中出现^226Ra的特征γ射线及大量^226Ra的衰变子核的特征γ射线;^133Ba谱中出现^133Ba特征射线及大量和峰,由计数率随距离变化关系及γ射线级联关系证明存在和峰.