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钼蓝青铜系列包括K0.3MoO3、Rb0.3MoO3、Tl0.3MoO3(基本结构一致)是一种准一维电荷密度波材料,具有准一维的电输运特性.伴随着电荷密度波(CDW)的产生,在180K左右时会发生从金属到半导体(绝缘体)的相变.运用X射线、中子衍射的手段,已经观察到低温下电荷密度波并确定了其矢量;也有人通过扫描隧道显微镜在实空间观察了其表面电荷密度波的形成情况;电子辐照对其物理性质和结构的影响的研究也取得进展;对电荷密度波(CDW)的动力学性质以及对钼蓝青铜的能带结构的研究也是热点之一.但是由于结构的复杂性,文献中关于其晶体学的描述经常出现错误,而且由于其对电子辐照的敏感性,其电子显微学的研究一直停滞不前.为此,本文对其进行了相关的基础研究。