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正电子湮灭技术已被广泛用于探测固体内部的缺陷情况，最近又发展起来一种慢正电子湮灭装置，它可有效地分析固体近表面区域的缺陷分布，成为对一些传统表面检测手段如背散射技术，光电子能谱等的重要补充。本文简要地介绍了这一新方法，并利用它对离子注入陶瓷表面的辐照损伤进行了研究。
应用慢正电子湮灭分析陶瓷表面的辐照损伤
【摘 要】
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正电子湮灭技术已被广泛用于探测固体内部的缺陷情况，最近又发展起来一种慢正电子湮灭装置，它可有效地分析固体近表面区域的缺陷分布，成为对一些传统表面检测手段如背散射技术，光
【机 构】
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武汉工业大学
【出 处】
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材料科学与工程
【发表日期】
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1996年1期
【基金项目】
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国家高技术863基金
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