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对表征电子产品可靠性的时间参数平均无故障工作时间（MTBF）的实际意义进行了研究和探讨，运用定时截尾试验法和应力加速试验法给出了具体产品评估的试验与计算过程，比较了计算MTBF的各种方法的适用范围。
电子产品MTBF的计算方法研究
【摘 要】
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对表征电子产品可靠性的时间参数平均无故障工作时间（MTBF）的实际意义进行了研究和探讨，运用定时截尾试验法和应力加速试验法给出了具体产品评估的试验与计算过程，比较了计算MTBF
【机 构】
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中国兵器工业第214研究所
【出 处】
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集成电路通讯
【发表日期】
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2016年2期
其他文献
一种数模混合芯片通过在芯片设计过程中，增加了可测性设计，使得芯片建立故障的敏感化通路，观测到芯片对于激励的响应，从而判断电路是否存在故障。根据芯片各个模块的特性，采用不同