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本文介绍一种微机化的X射线双晶衍射仪,不但可用于近完整晶体中微小畸变,点阵错配及晶片弯曲等的测量,而且可以作定点定时的强度记录和扫描,以提高信噪比,并使曲线数据化。经微机化后的X射线双晶衍射仪可以对超晶格材料以及离子注入材料作细致的分析。
微机化X射线双晶衍射仪
【摘 要】
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本文介绍一种微机化的X射线双晶衍射仪,不但可用于近完整晶体中微小畸变,点阵错配及晶片弯曲等的测量,而且可以作定点定时的强度记录和扫描,以提高信噪比,并使曲线数据化。经
【机 构】
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中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所
【出 处】
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分析仪器
【发表日期】
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1990年1期
【基金项目】
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上海冶金研究所离子束开放实验室资助
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