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用高分辨快电子能量损失谱方法研究了Kr原子4s内价壳层自电离区的光学振子强度, 说明了以前几家实验存在差异的原因, 并首次得到了3d内壳层激发的绝对光学振子强度.
Kr原子4s自电离区和3d内壳层光学振子强度研究
【摘 要】
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用高分辨快电子能量损失谱方法研究了Kr原子4s内价壳层自电离区的光学振子强度, 说明了以前几家实验存在差异的原因, 并首次得到了3d内壳层激发的绝对光学振子强度.
【出 处】
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原子核物理评论
【发表日期】
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2002年z1期
【基金项目】
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国家自然科学基金资助项目(10134010, 10004010), 中国科技大学青年基金资助项目
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