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X射线吸收精细结构谱学(XAFS)技术是近40年来同步辐射领域最为重要的实验技术之一,在物理、化学、生物、材料和能源科学等诸多领域得到了广泛应用.本文简要综述了XAFS技术在纳米材料科学研究中的应用.首先介绍了XAFS的基本原理、实验方法及数据分析处理过程,进一步通过对XAFS技术在应用于纳米材料研究中的一些代表性工作进行概述,如金属与半导体纳米颗粒、催化剂、核壳结构、二维超薄纳米片,以及原位XAFS技术在研究纳米材料的原位成核/生长过程和纳米催化剂在工作状态下的中间态表征等,展示了XAFS技术在纳米材料领域对其原子和电子结构表征的强大能力.