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采用粉末X-射线衍射法对7个不同厂家的银杏叶片进行分析,获得了各样品的粉末X-射线衍射Fourier指纹图谱。根据银杏叶提取物的粉末X-射线衍射Fourier图谱的几何拓扑图形和32个特征共有峰,研究了银杏叶片的粉末X-射线衍射Fourier指纹图谱的图形几何拓扑规律,并计算了其特征共有峰的比例,为银杏叶片的质量鉴定提供了参考依据。