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用能量为1.7MeV不同注量的电子辐照了TiNi形状记忆合金,通过温度控制使辐照在合金的R相状态进行,发现辐照使合金的奥氏体逆转变开始温度A 和结束温度Af升高,随着辐照注量的增加有增大的趋势,且奥氏体转变滞后也有所增大;R相转变开始点Rs和转变结束点Rf略有增加.XRD结果表明电子辐照造成了R相点阵畸变,随辐照注量的增加有增大的趋势.这一变化被认为是辐照引入的点缺陷导致了R相稳定化,并且部分缺陷钉扎了R相界面造成的.这一结果为记忆合金相变点的调节提供了新方法.