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提出几种提高红外电路故障诊断仪诊断有源低热器件能力的新方法。这几种方法主要是通过增大元器件耗散功率和表面发射率来宾现的。理论分析和实践结果都表明，本文所提出的方法能有效地改善有源低热器件的红外热图像。混和信号激励法能明显增大三极管放大电路耗散功率，特别是第一级耗散功率；增频激励法能有效提高IC耗散功率；表面漫射法能有效增大元器件的发射系数。这三种方法有效地提高了元器件的温度和发射系数，从而增强了元器件的辐射度或明显改善了它们的热图像。