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制备了纳米级(Ni82Fe18)72.9Nb27.1(3.5nm)/Ni82Fe18(t nm)/Ta(3 nm)坡莫合金系列膜,并进行了中温退火(200 °C),测量了退火前后样品的零场电阻率(ρ),各向异性磁电阻(AMR)和微结构;从实验角度研究了中温退火对ρ和AMR随NiFe厚度(t)变化的影响,并探讨了该影响的微观机制.