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电感耦合等离子体发射光谱法（ICP—AES）是一种比较成熟的分析技术，已得到广泛的应用。近年来，由于固体光谱检测一电荷注入器件（C1D）的诞生，可提供所有的分析谱线，并可针对不同的样，不同的元素选择最佳的分析谱线，从而获得最佳的分析结果。这就是全谱直读等离子光学发射光谱（1CP—OES）。经试验研究，我们将该技术应用于地质、化探样品中Ag、B、V、Ti、Mo、Cu、Cr、Ni、Zn、Mn、Co、Pb、Be、Sn的测定。