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结合计算机辅助公差设计分析技术,以CPS某型号产品为例对开距参数理论值进行公差分析,得到了开距的仿真计算合格率和尺寸贡献度。通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期。
面向CPS产品参数设计的计算机辅助公差分析与优化
【摘 要】
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结合计算机辅助公差设计分析技术,以CPS某型号产品为例对开距参数理论值进行公差分析,得到了开距的仿真计算合格率和尺寸贡献度。通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产
【机 构】
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上海电科电器科技有限公司
【出 处】
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电器与能效管理技术
【发表日期】
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2014年20期
【基金项目】
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上海市科学技术委员会的资助（12dz1125000）
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