氧化钨电致变色薄膜的XPS分析

来源 :稀有金属材料与工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gjc444
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采用射频磁控溅射工艺,在柔性PET衬底上低温制备电致变色WOx/ITO/PET多层薄膜:利用X射线光电子能谱(XPS)分析所制备薄膜的着、退色态中W元素的价态以及。元素的化合环境。结果表明:WOx薄膜着色态中存在W6^+和W^5+的混合价态,而在退色态中W元素的化合价仅为W^6+;钨离子的不同价态和氧离子的不同化合环境的变化与WOx薄膜的电致变色机制密切相关。
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