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为发展高梯度绝缘子，介绍了这种新型绝缘子的耐压机理，利用单电子理论对绝缘层厚度进行了初步的定量估计，从材料耐热性能、出气率、介电常数、耐辐射等几个方面对Kapton用于真空高压绝缘的优越性进行了讨论．利用经验公式绘制了Kapton材料的二次电子发射数量随能量的变化关系曲线图，对实际设计微堆层绝缘子具有参考价值．