基于自适应遗传算法的LS—SVM漏磁缺陷重构

来源 :军械工程学院学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Forest2008
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提出基于自适应遗传算法的最小二乘支持向量机算法(AGA-LS-SVM)的新方法,用于二维缺陷重构,建立由缺陷的漏磁信号到缺陷二维轮廓的映射关系。该方法实现人工裂纹缺陷的二维轮廓的重构,试验结果表明,该方法具有速度快、精度高和很好的泛化能力,为漏磁检测定量化提供了一种可行的方法。
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