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以材料的微观裂纹为检测对象,基于扫频光学的低相干技术原理,设计构建了马赫-泽德干涉结构的低相干系统,采用平衡探测器接收干涉光信号,并通过LabVIEW软件平台实现数据的采集与存储,得到了叶片微观裂纹的二维信息,再据此对该裂纹进行了图像重构。系统的检测分辨率可达到15.6μm,该方法具有非侵入、检测分辨率高等优点。