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用硝酸及少量氢氟酸可将试样完全溶解，所得溶液可用于电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）或钼蓝分光光度法测定镁和镁合金中的硅含量，对ICP—AES测定硅的分析条件作了试验。为避免各共存元素的干扰，方法中选择波长为SiⅠ251．611nm及SiⅠ212．412nm的谱线作为分析谱线。在制作工作曲线时加入与待测样品等量的镁以补偿基体组分引起的基体效应，在选用上述两谱线作为分析线时，硅的质量浓度在40．0mg·L^-1以内时与谱线的发射强度均呈线性关系，所得检出限（3S／N）依次为6．2和1