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在分析电子装备结构特点及冲击振动环境影响因素基础上，阐述了电子产品在振动环境中的损伤机理与模式，以某型雷达装备为试验对象，选取该装备某型组合体与电路板进行冲击振动与扫频振动试验，分析了电子产品在振动环境中损伤的一般规律。试验表明：电子产品在振动环境中的损伤不仅与振动类型及幅值有关，也与其自身结构有着密切的关系。