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为了克服磁瓦图像光照不均匀、缺陷区域对比度低等难点,提出了一种基于曲线拟合的图像分割方法。对磁瓦图像进行逐行扫描后得到的灰度曲线,利用形态学滤波去除尖锐的波峰和波谷,然后以二次曲线作为模型采用最小二乘法拟合平滑后的曲线得到该扫描线的灰度分布趋势,最后通过差分手段减弱背景影响、突出缺陷区域,用阈值分割将缺陷区域提取出来。实验证明该方法能够有效准确地提取不同光照下磁瓦内、外表面的不同种类缺陷,为后续缺陷的分类识别奠定了良好基础。