基于激光束感应电流的微激光束扫描谱装置

来源 :红外 | 被引量 : 0次 | 上传用户:requst2009
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本实用新型公开了一种基于激光束感应电流的微激光束扫描谱装置,该装置包括氦氖激光器、声光调制器、光束扩束器、光束分束器、CCD摄像机、会聚显微物镜、置于带有两个步进马达的三维样品调整架上的样品、放大器、计算机。激光束经扩束和会聚后入射到样品上,样品产生的感应电流信号经放大器放大。整个测试过程均由计算机控制,包括数据采集、存储及处理等。本装经结构简单、测量方便、对样品没有破坏,可用于大面积光伏型器件工艺过程的在线检测,还可以用于半导体材料电活性缺陷的测量。 The utility model discloses a micro-laser beam scanning spectrum device based on laser beam induced current, which comprises a helium-neon laser, an acousto-optic modulator, a beam expander, a beam splitter, a CCD camera, a convergent microscope objective, Samples, amplifiers, computers placed in a three-dimensional sample holder with two stepper motors. The laser beam is incident on the sample after being expanded and converged, and the induced current signal generated by the sample is amplified by the amplifier. The entire testing process is controlled by the computer, including data acquisition, storage and processing. This device has the advantages of simple structure, convenient measurement and no damage to the sample. It can be used for on-line detection of large-scale photovoltaic device process, and can also be used for the measurement of electroactive defects of semiconductor materials.
其他文献
请下载后查看,本文暂不支持在线获取查看简介。 Please download to view, this article does not support online access to view profile.
国产半导体器件型号代码@吴腾奇 Domestic semiconductor device model code @ Wu Tengqi
的胜利具有更深层次的含义.巴塞罗那奥运会后,曾为中国游泳运动的发展作出重大贡献的“五朵金花”大多陆续退役,接替他们在本届世锦赛上肩挑重担的是现在人称“小花”、“小
首先,从词和短语的内涵分析。词是由语素组成的,能够自由运用的最小的造句单位。短语是由两个或两个以上的词构成的比较大的语言单位。从构成上看,二者属于不同级别的语言单位;从
本文根据梧州市和苍梧县现有肉桂实生林的调查材料进行分析,叶片营养元素中氮、磷、硼、铜和钙是影响桂皮产量的主要因子;微量元素铜和用是影响桂皮产量的主导因子,二者都是在高
日本电影中“母亲神话”的崩溃〔日本〕佐藤忠男洪旗译为什么日本的夫妻之间爱情语言非常贫乏夫妻之间表达爱情的语言很不发达,这可以算是日本人的生活习性之一吧。当然,夫妻间
Atmol公司生产的小封装256位可读/写应答器T5554,以125kHz的射频磁场为动力,支持各种调制方式和范围为1kb~8kb八种不同的数据传输速率。该器件内含有一个70pF或200pF的贴片电容,采用尺寸仅为137×267×028mm的小封装,可插入塑
我爱玩篮球,这是家乡人的影响.我家在西部高原的一个僻远山村,典型的黄土高坡、一架坡连着一架坡绵绵不断.常令人站在高坡憧憬那边的再那边到底是山,是川,是城?是不是也象我
Environmental stress screening (ESS) is a technological process to reduce the costly early field failure of electronic components. This paper builds an optimiza