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通过对电容型套管介质损耗因数tanδ的影响因素进行探讨与分析,并介绍了一起对某110kV变电站主变进行常规预试过程中,发现主变变高C相套管介损偏大、电容量超标后,运用油色谱分析和局部放电试验等综合分析确定套管内部存在放电,导致部分电容屏击穿。通过对套管解体检查证实了综合分析判断结果的准确性,对现场的事故分析有一定的指导意义。