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采用高温熔融法制备Si O2-Na F-Na2O-Gd2O3-Eu2O3系基质玻璃,热处理后获得微晶玻璃.通过差热分析（DTA）、X射线衍射（XRD）、电子扫描电镜（SEM）和荧光光谱等对样品进行分析.XRD结果表明：基质玻璃经700、750℃热处理2-4 h获得含Gd9.33（Si O4）6O2的微晶玻璃.晶粒尺寸随热处理温度的升高和时间的延长而增大.荧光光谱研究结果表明：与基质玻璃相比,微晶玻璃的激发强度和发射强度明显增强,微晶玻璃中电荷迁移带发生偏移,5D0—7F1跃迁的发射峰出现劈裂,5D0—7F