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本文用原子力显微镜（AFM）对硫醇自组装金电极表面随机取点测得力曲线，并对力曲线粘附力数据进行统计分析，结果表明随自组装液中硫醇浓度改变，粘附力特征呈现出关联性的变化。力曲线所揭示的自组装膜吸附行为的变化规律和传统电化学方法交流阻抗（EIS）测试所得结论一致，表明AFM力曲线技术可应用于自组膜吸附行为的研究。