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提出了一种针对混合信号SoC中ADC的动态参数与静态参数测试的内建自测试方案．由于动态参数和静态参数在同一个测试电路中都能够得到测试，因此能够更加全面准确地反映待测器件的性能．通过对存储器和计算资源的合理配置和复用，将两种测试的激励产生和响应分析集成在一起，最大程度地减少了对电路面积的影响．整个设计在FPGA上实现，实验结果证明了其可行性．