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随着我国国民经济水平的提高,科学技术的不断进步,LXI总线测试仪器以及其系统在新的使用环境下,在时间同步的精度方面提出了亚微秒,甚至是纳秒级的新要求。为了达到上述技术要求,下面就分别从时间戳提取方式、测试系统拓扑结构,以及IEEE1588同步机制等方面进行分析,从而研究出合理的解决方案。