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目的：研究X综合征(X-Syn)患者的胰岛素敏感性(ISS)及其与内皮素(ET)、一氧化氮(NO)的关系，探讨胰岛素抵抗(IR)在X－Syn发病中的作用。方法：对16例X－Syn患者进行葡萄糖耐量试验(OGTT)，胰岛素释放曲线观察，并计算曲线下面积，同时采用放射免疫法和硝酸还原酶法分别测定空腹血浆ET、NO水平，并与空腹胰岛素水平(FIS)及胰岛素敏感性指数(ISI)进行直线相关分析。结果：与正常对照组比较，X－Syn患者ISS降低及ISI升高(P＜O.05)；血浆ET和NO水平升高(P＜O.05)，FIS及ISI与血浆ET呈显著正相关(P＜O.05)，ISS与ET呈显著负相关(P＜O.05)，与NO水平无相关(P＞O.05)。正常对照组的上述指标之间无相关(P＞O.05)。结论：X－Syn患者存在IR，IR与血浆ET水平升高有关，与NO的关系有待进一步探讨。