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利用硅油的流动特性在玻璃基底表面成功制备出膜厚呈连续变化的楔形铁薄膜系统,研究薄膜的内应力释放模式。实验表明:在薄膜的沉积过程中,硅油对铁原子及原子团簇的快速淬火作用使得薄膜中包含了丰富的空洞和缺陷,并产生较大的残余压应力;沉积完成之后,残余压应力的释放促使薄膜与基底脱离而形成电话线结构的褶皱形貌。褶皱的波长λ和振幅A均随着薄膜厚度的增加而增加。原子力显微镜的剖面图显示,褶皱的宽度l和最大隆起高度δ分别在10和1μm的数量级。基于薄板弯曲理论,对电话线褶皱的规则外形、网络模式和分叉形貌等进行了理论分析。