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由于数字T/R组件数字化、集成化和光纤化的特点,传统的测试方法和手段已经不适应于数字T/R组件的测试。基于以上原因,根据当今微波技术、大规模集成电路和光电技术的研究成果,本文提出了一种数字T/R组件发射通道和接收通道参数综合测试的实现方法,经测试验证,证明方法可行有效,对于提高数字T/R组件研制开发的效率乃至未来综合保障应用都具有积极的意义。