LDO失效分析及改善

来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户：xieke594112

【摘要】

：

低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator,LDO)新品导入中,过强的铜线焊接会使焊球下芯片层间电介质层(Interlayer Dielectric,ILD)产生裂纹,从而导致器件测试漏电流失效或可靠性失效.通过对芯片结构的分析,指出LDO漏电流失效的原因,同时详细讨论了如何确定合理的铜线焊接参数、如何检测失效以及失效分析步骤.

【作者】

：

胡敏

【机构】

：

乐山无线电股份有限公司,四川乐山614000

【出处】

：

电子与封装

【发表日期】

：

2022年1期

【关键词】

：

低压差线性稳压器铜线焊接漏电流失效可靠性 ILD层裂纹

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