基于共沉积技术的AgTCNQ的有机双稳态器件

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jhcjsc
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采用共沉积技术制备了AgTCNQ薄膜,并进行了红外、紫外光谱表征.利用微电子工艺制备了基于AgTCNQ薄膜的有机双稳态器件.研究发现,Ti/AgTCNQ/Au双稳态器件具有可逆、可重复的开关存储特性.将器件从初始的高阻态转变为低阻态的正向开关阈值电压为3.8~5V,将低阻态转变为高阻态的负向阈值电压仅为-3.5~-4.4V,与通常的CuTCNQ器件相比较小.这种基于AgTCNQ交叉结构的有机双稳态器件可应用于非易失性有机存储器.
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