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随着微电子加工工艺的不断进步,从理论上讲我们已经有可能设计出高速、复杂的 SOC 电路。但复杂的电路和先进的工艺又给 IC 设计带来生了新的问题,它们会使器件和互连模型变得更加复杂,使得我们在综合、布局、布线和物理验证间反复进行设计的次数越来越多。为了保证电路设计的正确,我们需要一个能在设计初期就可以根据精确的模型预测物