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本文介绍了如何应用ECID信息，通过VB代码尽早将潜在问题芯片剔除，从而降低半导体测试成本并提高测试效率的方法。
通过ECID实现在半导体测试过程中剔除潜在问题芯片
【摘 要】
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本文介绍了如何应用ECID信息，通过VB代码尽早将潜在问题芯片剔除，从而降低半导体测试成本并提高测试效率的方法。
【机 构】
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飞思卡尔半导体（中国）有限公司
【出 处】
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中国集成电路
【发表日期】
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2017年10期
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