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应用XRF靶线内标法测定Au的X—荧光谱线的强度,以此来测定饰品的金覆盖层的厚度,可以克服饰品的几何形状的影响。本文选择Rh的K_α线为内标线,Au的L_β线为分析线,以Au的L_β线强度对Rh的K_α线强度的比值为变量,研究了该比值与金覆盖层厚度的函数关系,以此测定金覆盖层的厚度,本方法测定金覆盖层厚度范围为0—5μm,测定结果与标称值的相对偏差≤15％。