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本文介绍了在天线远场电性能测试时,通过测量待测天线所在测试场的地面反射波纹,来确定测试场地面最大反射位置的方法,以便对这些反射位置采取相应的措施,消除或减弱测试场地对天线远场电性能(特别是对测量低、超低天线副瓣)的影响,使测试结果能比较准确地反映天线的实际情况。将这种方法用于超低副瓣雷达天线的远场测量中,测出了较真实的结果。