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选择MgF2和ZnSe两种材料设计制作了一维缺陷光子晶体，从理论和实验上对带有缺陷的一维光子晶体的传光特性进行了研究。在实验中，一般用光谱仪来测量通过光子晶体的透射光谱，由于光谱仪价格较贵，这种方法不利于制作实用的光子晶体传感器。我们用CCD和光栅代替光谱仪，利用白光光源代替激光器，建立自动测量实验系统进行了实验研究。实验中利用压电陶瓷来改变缺陷层厚度，模拟缺陷层的变化，通过CCD测量衍射光位置来测量透过的光频。实验结果表明，缺陷层厚度的变化和透射光频率之间呈线性关系，通过测量透射光频的变化，可以测量引起