IC封装的声学检查技术

来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:quake_bj
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本文简要叙述了依赖于封装构造,可在引线框架下也能发现诸如爆米花裂纹等缺陷的IC声学检测技术.
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