【摘 要】
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聚酰亚胺(PI)等介质材料易受到空间环境带电粒子作用而带电,并导致沿面闪络。为了揭示表面闪络的影响因素进而探索闪络抑制方法,建立了表面闪络测试系统,采用纳米、微米ZnO
【机 构】
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电力设备电气绝缘国家重点实验室（西安交通大学）
【基金项目】
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国家自然科学基金青年项目(51607134),中国博士后科学基金面上项目(2015M570833)资助
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聚酰亚胺(PI)等介质材料易受到空间环境带电粒子作用而带电,并导致沿面闪络。为了揭示表面闪络的影响因素进而探索闪络抑制方法,建立了表面闪络测试系统,采用纳米、微米ZnO 对PI进行改性及表面氟化两种方法对制备的平板PI 试样进行闪络特性测试。研究发现,与纯PI 试样对比,改性、氟化试样的表面闪络电压均有显著提升,基于二次电子发射雪崩(SEEA)模型,材料表面特性对闪络发展起决定性因素。实验研究表明,纳米及微米ZnO 颗粒在PI 内部引入了更多的深陷阱,抑制电荷脱陷能力;微粒对PI 填隙,降低脱气率,减少表
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