随机谱和程序谱及均方根载荷加载的裂纹扩展寿命研究

来源 :上海交通大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hzpjhuang
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本文研究了随机谱加载、程序谱加载和均方根载荷加载的实验和疲劳裂纹扩展寿命估算.从实验和理论计算结果表明:对飞机谱载荷,程序谱加载,均方根载荷加载的疲劳裂纹扩展寿命皆比随机谱加载的寿命长.如果将程序谱的周期长度(一个程序周期的循环数)减50%,则所得的裂纹扩展寿命趋近于随机谱加载的寿命.
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